首页 > 产品中心 > 光电实验系列 - HLD-CCD-II CCD特性研究实验仪
产品介绍


CCD具有集成度高、分辨率高、灵敏度高、功耗小、寿命长、性能稳定、便于与计算机结合等优点。被广泛应用于人民生活、军事、天文、医疗、电视、图像扫描、工业检测和自动控制等各个领域。学习和掌握一些CCD的基本结构、工作原理,通过实验对CCD的基本特性进行测量。
技术参数:
●  本仪器由CCD实验仪主机、CCD传感器、镜头和实验导轨等构成;    
●  空间分辨率:像素达2000个点、分辨率达几个微米;    
●  具有时序输出接口、微机观察二值化输出;    
●  A/D转换时,幅度分辨率:1/256(8位量化),图象细腻,无需额外处理;    
●  本仪器可以用于CCD原理实验、非接触式测量实验。
实验内容:   
●  线阵CCD原理及驱动;    
●  线阵CCD特性测量实验;    
●  线阵CCD输出信号的二值化;    
●  线阵CCD的A/D数据采集;     
●  利用线阵CCD测量物体尺寸。   
(注:随机附送配套实验软件)